TWE 透射波前差测试机
TWE测量仪器使用双光路测量模式,具备高精度、高动态范围和大像差直接测量能力,可快速切换光路类型,对各类光学元件(如透镜、滤光片、平面玻璃等)的透射波前质量进行精确表征与质量控制。
准直光穿过被测光学元件后,其理想的平面波前会因元件内部及表面的不均匀性而产生畸变。TWE测量机将这种波前畸变转换为可检测的光强分布图像,通过专用算法实时重建出完整的波前相位图,从而精确量化出波前误差的PV值、RMS值、PSF、MTF等关键参数。
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400-1100nm波长范围
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5.02×3.75mm孔径尺寸
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<2 nm RMS测试分辨率(相位)
- 台式TWE测试仪
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产品优势
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产品参数
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应用解决方案
产品优势
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高精度波前测量
支持10nm RMS解析度,精准捕捉光学元件的波前信息与成像质量
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多功能测试平台
兼容平面与透镜类产品,支持快速更换Holder设计,适配不同规格产品测量需求
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非接触式快速检测
采用高稳定性光学系统,采集速度快,结果重复性高
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定制化波长与输出
支持多波段切换测试,并一键输出定制报告图表
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集成紧凑高效
模块化设计节省空间,搭配可视化软件界面,操作更直观高效
产品参数
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台式TWE测试仪vs
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波长范围
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孔径尺寸
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空间分辨率
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相位分辨率
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台间差
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绝对精度
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采集速度
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实时处理速度
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电路规格
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外观尺寸
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重量
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通讯接口
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气压
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温度
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湿度
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洁净度
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台式TWE测试仪
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波长范围400 ~ 1100 nm
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孔径尺寸5.02 mm × 3.75 mm
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空间分辨率27.6 μm(依扩束镜而定)
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相位分辨率<2 nm RMS(依扩束镜而定)
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台间差PV: 15-20 nm;RMS: 0-4 nm
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绝对精度10 nm RMS
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采集速度60 FPS
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实时处理速度10 FPS(全分辨率)
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电路规格电源:AC 220 V,50 Hz
功率:100 W
额定电流:0.5 A(Max 1A) -
外观尺寸430 mm × 430 mm × 884.5 mm
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重量55 kg
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通讯接口以太网口,USB 3.0
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气压0.5-0.7 Mpa,Φ10 mm
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温度15-35°C
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湿度40 ~ 65%
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洁净度100/1000/10000 级
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